我国攻克纳米级薄膜材料检测世界难题

    随着新材料的发展与应用，纳米级薄膜材料在许多领域中被广泛使用，国际上却没有可直接检测薄膜热特性的设备。1纳米仅为1根头发丝直径的六万分之一，如何检测薄膜的热特性成为国际难题，过去需要先把薄膜沉积得很厚，再把待测薄膜材料刮下来，形成一定质量的粉末后，才能进行破坏性检测。
 

    经多年技术攻坚，华中科技大学“长江学者”缪向水教授团队研发出我国首台光功率热分析仪，检测薄膜厚度可至5纳米。据介绍，光功率热分析仪是将激光照射到纳米薄膜材料表面上，通过反射光功率检测薄膜的相变温度点和热膨胀系数。
 

    作为国内首家功能薄膜材料物理性能检测技术研究基地，本次组建省级工程实验室后，将下设薄膜材料热分析、薄膜材料样品制备与加工、薄膜材料电磁分析、薄膜材料力学分析、薄膜材料光学分析5个垂直研究实验室。
 

    清华大学教授、国家重点研发计划专家组组长潘峰表示，薄膜材料是对全球科技进步的颠覆性技术，随着薄膜技术越做越薄，需要颠覆性的测试设备，科技部已设立材料基因组重大研发专项，其中一个重要任务就是攻克高通量的表征检测技术，湖北可依托薄膜检测研发的领先优势，作出更大的科学贡献。